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OPTICAL BENCH REFLET 特别适合做任何材质形状背杂散 / 正杂散光的特性，在辐射瓣内材料，其光的特性会以亮度及色度呈现，藉着辐射瓣的形状分析可检验材质表面之粗糙度、瑕疵结构之排列等，利用不同辐射方向所获得的数据可推断材料表面的覆盖，如油漆、萤光、墨水，因视角不同之色泽变化和薄膜层。最后，背杂光之分光亮度仪可分析的物体表面之化学混合物，如氧化层、尘土、污染等。本系统是以模块形式建构，故可很容易依据调整需求，如 integrated flux 做量测、光谱分析或用白光照射。反射光学，亦可人工操作方式进行做点的检测或快速分析。

REFLET光学介绍

光学包括：

(1)角度仪组合(goniometric assembly)含：

照明组合其光以小角度投射于物体面，光束的方向可调整，从垂直方向到水平方向照射于物体表面之直径从 3mm 到 10mm 。

马达带动的观测面组合，扫描能力之精确度在0.1。

(2) 以光纤做连接的光源组合可以为：

常规的卤素灯源

多光谱光源，此光源忠实及应物体表面材质不受环境、气候影响。

(3)量测设备：

收集某角度内观察区的光通量，这些光量可由 (a) “integrated flux” 中光检测器，或 (2) 利用摄谱仪可在谱色分析 mode 或色度 mode 中操作。

(4) 传输时之光模块 ( 可选购 ) 。

基本光组合在传输中基于不同条件有不同观察与量测

(1) 样品与水平光成90°(即θei90°)

(2) 做部份量测

提供 “ polarizer ” 与 “ analyzer ” 连接器：

前者置于光束，后者置于收集光束处，二者可利用本连接器连接

提供电子架：

做为马达推动轴控制

使用者界面有以下功能：

标定下列：

样品名称与型号
保存文档名称
量测日期
2D&3D
扫描角之范围

可得下列数据：

增益及电位表补偿值
光束位置图

替换或自动得下列：

自动替换量测频道及相关参数
自动搜集角度
自动搜集量测光强度
保存不同量测参数信息

RELFET 规格说明

光组合
入射角 ( θ e ) 对象表面光照射面尺寸角孔大小光源光源箱多光谱光源	量测范围 0 ° (垂直)到90°(水平) 选用：马达调整固定为 3mm 选用：人工调整范围 3mm到10mm直径 0.2°到2° 卤素灯 150W( 标准 ) 氙气灯 75W( 选用 ) 波长从 400nm 到 800nm 每波长间距 2nm
观察组合
马达化扫描角度解析值位置精密度量测组合 : “integrated flux mode” 藉用分光仪分光范围分光分辨率	θ： [0°到180°] ψ： [0°到90°] 亦可人工调整 0.1° ± 0.1° 高灵敏度光二极体 400-800nm 2nm
马达化
马达轴控制器计算机 ( 选用 ) 计算机化步骤量测间距	观测组合之轴 (0, ψ ) 用 STIL Microstep之微步阶控制全自动量测步骤 30秒 30分
传输光模块固定垂直方向任意光之方向	利用光纤连接光源手动调整 0 °到 30°
“polarizer + analyzer”连接	快速固定