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REFLET 杂散光量测仪
OPTICAL BENCH REFLET 特别适合做任何材质形状背杂散 / 正杂散光的特性,在辐射瓣内材料,其光的特性会以亮度及色度呈现,藉着辐射瓣的形状分析可检验材质表面之粗糙度、瑕疵结构之排列等,利用不同辐射方向所获得的数据可推断材料表面的覆盖,如油漆、萤光、墨水,因视角不同之色泽变化和薄膜层。最后,背杂光之分光亮度仪可分析的物体表面之化学混合物,如氧化层、尘土、污染等。本系统是以模块形式建构,故可很容易依据调整需求,如 integrated flux 做量测、光谱分析或用白光照射。反射光学,亦可人工操作方式进行做点的检测或快速分析。
REFLET光学介绍
光学包括:
(1) 角度仪组合(goniometric assembly) 含:
照明组合其光以小角度投射于物体面,光束的方向可调整,从垂直方向到水平方向照射于物体表面之直径从 3mm 到 10mm 。
马达带动的观测面组合,扫描能力之精确度在0.1。
(2) 以光纤做连接的光源组合可以为:
常规的卤素灯源
多光谱光源,此光源忠实及应物体表面材质不受环境、气候影响。
(3) 量测设备:
收集某角度内观察区的光通量,这些光量可由 (a) “integrated flux” 中光检测器,或 (2) 利用摄谱仪可在谱色分析 mode 或色度 mode 中操作 。
(4) 传输时之光模块 ( 可选购 ) 。
基本光组合在传输中基于不同条件有不同观察与量测
(1) 样品与水平光成90°(即θei90°)
(2) 做部份量测
提供 “ polarizer ” 与 “ analyzer ” 连接器 :
前者置于光束,后者置于收集光束处,二者可利用本连接器连接
提供电子架 :
做为马达推动轴控制
使用者界面有以下功能 :
标定下列:
样品名称与型号
保存文档名称
量测日期
2D&3D
扫描角之范围
可得下列数据:
增益及电位表补偿值
光束位置图
替换或自动得下列:
自动替换量测频道及相关参数
自动搜集角度
自动搜集量测光强度
保存不同量测参数信息
RELFET 规格说明
光组合
入射角 ( θ e )
对象表面光照射面尺寸
角孔大小
光源
光源箱
多光谱光源
量测范围 0 ° (垂直)到90°(水平)
选用:马达调整
固定为 3mm
选用:人工调整范围 3mm到10mm直径
0.2°到2°
卤素灯 150W( 标准 )
氙气灯 75W( 选用 )
波长从 400nm 到 800nm 每波长间距 2nm
观察组合
马达化扫描
角度解析值
位置精密度
量测组合 :
“integrated flux mode”
藉用分光仪
分光范围
分光分辨率
θ: [0°到180°]
ψ: [0°到90°]
亦可人工调整
0.1°
± 0.1°
高灵敏度光二极体
400-800nm
2nm
马达化
马达轴
控制器
计算机 ( 选用 )
计算机化步骤
量测间距
观测组合之轴 (0, ψ )
用 STIL Microstep之微步阶控制
全自动量测步骤
30秒
30分
传输光模块
固定垂直方向
任意光之方向
利用光纤连接光源
手动调整
0 °到 30°
“polarizer + analyzer”连接
快速固定
HASO II技术指标
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