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光学薄膜分析与设计软件Essen

光学薄膜分析与设计软件Essential Macleod
时间:2015-05-16 22:48来源:讯技光电作者: 营销部点击:打印
Essential Macleod 是一套完备的光学薄膜分析与设计的软件包,可以在所有 64/位32 位的Microsoft Windows操作系统下运行,并且具有真正的多文档操作界面;它能满足光学镀膜设计中的各种要求,从简单的单层膜到严格的分光膜;也能对波分复用(WDM)和密集波分复用(DWDM)滤波片进行测评;可以从头开始设计也可以优化已有的设计;可以勘测在设计中的误差,也可以萃取设计用到的光学薄膜常数。
 
Essential Macleod核心模块的功能
 
•计算给定膜系的特性
 
•对给定特性目标要求优化膜系设计
 
•维护材料的光学常数
 
•对已有设计进行分析
 
•膜系设计的合并分析 
 
Essential Macleod可扩展的功能
 
Runsheet
 
这个工具可设计镀膜制程,包含机器配置编辑器以及跑单生成器。机器配置中贮存了镀膜机的详细设置,材料源以及制具因子(Tooling)以及监控系统。使用者可使用跑单生成器对既定的机器配置,进行镀膜设计的监控规划。该工具除了可同时具备光学与晶体监控功能外,还具备诸如动态加工因子和系统带宽等高级特性。
 
Simulator
 
对于公差问题, Simulator 通过蒙特卡罗(Monte Carlo)法在实际模型控制过程的扩展来进行解决。通过一个由 Runsheet 创建的控制计划, Simulator 可模拟薄膜淀积控制,引入随机和系统效应,例如信号噪声,加工因子的变动,封装密度误差等等,以及显示这些参数对于镀膜制程的最终模拟结果的效应。
 
Monitorlink
 
Monitorlink提供将Runsheet连结到一个淀积控制器的额外软件。一个独立的程序与控制器直接连接,而且一个 Runsheet 的扩展也赋予其产出和编辑淀积程序的功能。
VStack
 
VStack 是一种计算与优化的工具﹐它也能计算这些系统中斜射光的效应。当光束斜入射时,初始为 p- 偏振态的光线最终会以 p - 偏振态从系统出射。同理,原本是 s - 偏振态光也会以 p - 偏振态出射,我们称此为 偏振泄漏 (polarization leakage) 现象。 VStack 能计算泄漏的大小而且提供泄漏元件的 Delta 值。
 
Function
 
一些法向反射﹑透射,或是相位的计算通常需要非常庞大的计算量才能求得结果。电子数据表并不是一种合适的解法,一方面因为它不方便进行插值操作,另一方面在处理不同数量的数据组字时会有困难。但 Function 可以完全自动计算,其简单宏指令中的操作 ( 具有内建的编辑器和语法检查器 ) 能允许一再重复相同的计算。
 
DWDM Assistant
 
DWDA Assistant 可自主设计一组多腔滤波片,以满足用户的不同规格,设计结果可以根据一些诸如总厚度、预计淀积时间等等规范排序。
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