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Macleod 10.4新版本发布
时间:2017-04-20 14:09来源:讯技光电作者: 技术部点击:打印
Core
增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。
 

 
现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册
 

 
反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。
反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 
 

 
如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。
优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。
 


 
用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。
 

 
当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。
在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。
 


 
Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。

 
Runsheet
“Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 
 
 
Function
 
双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。
 

 
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