Essential Macleod新版本12.6更新内容 - 讯技光电科技(上海)有限公司

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Essential Macleod新版本12.6更新内容

时间:2025-05-07 12:21来源:讯技光电作者: 技术部点击:次打印

Essential Macleod 12.6新版本已经正式发布，更新内容如下：

Core

1. 现在可以随时访问“厚层设计”的偏振选项，在此之前，当使用入射角列表时，偏振选项无法更改。

2. 散射工具（scattering tool）现在可以计算BRDF/BTDF以及角分辨散射。

3. 在散射工具中添加了散射积分计算。总散射积分是角分辨散射在反射半球和透射半球上的积分。为方便起见，反射半球和透射半球的散射积分是分开提供的。

4. 现在，Essential Macleod可以读取日立光谱仪生成的udss文件。Essential Macleod将带有udss扩展名的文件假定包含日立格式的数据，并自动解码。

5. 反演工程（Reverse Engineer）现在支持在不同基板上进行测量。每个测量页面都可以指定用于测量的基板。如果基板为空白，就会调用“设计”（Design）页面的基板。

6. 现在的设计可以导出使用于Synopsys的LightTools软件。使用File>Export>LightTools来导出数据

Runsheet

1. Runsheet现在可以导出一个设计文件，该文件包含在Runsheet中使用的监测芯片的预期厚度。选择要导出的包含芯片的层（或该芯片上的一个层），然后使用File>Export>Chip Design来创建设计。

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