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全场光学相干扫描干涉仪
时间:2019-12-09 16:05来源:讯技光电作者: 技术部点击:打印
摘要
 
扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。

 
建模任务
 
 
仿真干涉条纹
 
 
走进VirtualLab Fusion
 
 
VirtualLab Fusion中的工作流程
 
•设置输入场
基本光源模型[教程视频]
•使用导入的数据自定义表面轮廓
•定义元件的位置和方向
LPD II:位置和方向[教程视频]
•正确设置通道以进行非序列追迹
非序列追迹的通道设置[用例]
•使用参数运行检查影响/变化
参数运行文档的使用[用例]
 
 
VirtualLab Fusion技术
 
文件信息
 
 
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